FPGA 芯片設計與測試技術研究

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FPGA 芯片設計與測試技術研究

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內容描述

《FPGA芯片設計與測試技術研究》圍繞基於SRAM的FPGA，針對島狀的架構，
對FPGA的各個模塊進行了詳細的分析和設計，
並設計了可擴展的FPGA配置電路及可靠全局信號網絡，同時對FPGA進行了抗輻照改進設計。
封測結果表明，改進的設計具有較好的抗干擾性能及較高的抗輻照特性，
以上結果應用到了規模為6000門、20萬門、30萬門、60萬門、100萬門等多個FPGA設計中。

目錄大綱

第1章緒論
1．1 研究背景
1．1．1 FPGA分類及特點
1．1．2 FPGA國內外發展概況
1．2 FPGA研究的目標和意義
1．3 本書主要工作
第2章CLB、IOB及佈線設計
2．1 可編程邏輯塊設計
2．1．1 FPGA高性能查找表的設計與實現
2．1．2 CLB算術邏輯及快速進位鏈的設計
2．2 輸入輸出接口設計
2．2．1 I/O接口簡介
2．2．2 可編程I/O接口的原理與設計
2．3 佈線結構設計和層構擴展技術
2．3．1 佈線結構概述
2．3．2 佈線結構設計
2．3．3 層構設計
2．3．4 層構中的開關設計
2．3．5 層構的拼接與互聯
2．4 本章小結
第3章FPGA的配置電路設計
3．1 基於JTAG的FPGA配置電路
3．1．1 基於JTAG的配置過程
3．1．2 配置控制結構
3．1．3 CRC校驗模塊
3．1．4 設計驗證與物理實現
3．2 易擴展配置電路的設計
3．2．1 FPGA啟動過程
3．2．2 配置電路設計
3．3 本章小結
第4章全局信號網絡的設計
4．1 FPGA配置單元抗干擾維持電路設計實現
4．1．1 FPGA配置單元設計和噪聲容限仿真
4．1．2 抗干擾低壓維持結構原理
4．1．3 設計與實現
4．1．4 物理實現
4．1．5 實驗結果
4．2 FPGA時鐘分配網絡設計技術
4．2．1 FPGA的時鐘佈線結構
4．2．2 利用鎖相環的時鐘分配結構
4．3 本章小結
……
第5章FPGA的抗輻照加固設計
第6章FPGA的測試
第7章FPGA芯片特性
第8章結束語
參考文獻
附錄